[c&p] Esta nueva técnica, desarrollada por científicos llevará a una mejor comprensión de las reacciones de las interfaces en las superficies, como la adsorción de iones, la corrosión, y las reacciones catalizadoras. Este método, en particular, extiende la capacidad de la microscopía por rayos X para observar de modo directo y en tiempo real las características subnanométricas que presentan las interfaces. Este enfoque puede obtener imágenes de la topografía de una superficie sólida sin usar la punta de una sonda próxima a la superficie.
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