Hace 11 años | Por equisdx a nist.gov
Publicado hace 11 años por equisdx a nist.gov

Científicos del NIST han aplicado una técnica de microscopía para ver objetos en nanoescala para observar los componentes de circuitos de la siguiente generación de chips de computadora en 3D, proporcionando así de manera potencial a la industria de los semiconductores una herramienta crucial para mejorar los chips para la siguiente década o más. Traducción en #1

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