Investigadores del grupo Ciencia e Ingeniería de los Materiales de la UCA han desarrollado un nuevo procedimiento para medir parámetros reticulares de materiales cristalinos con alta precisión a partir del análisis de diagramas de difracción de electrones (técnica utilizada para estudiar la materia haciendo que haces de electrones acelerados por voltajes descomunales incidan sobre una muestra sólida y muy delgada, y observando el patrón de interferencias de ondas resultante).
Comentarios
¿Difracción? O sea que los van a torturar...
“es crucial para lograr una mejora en el diseño y posible uso de los materiales en sistemas estructurales y funcionales en aplicaciones tales como la nanoelectrónica y las telecomunciaciones del futuro”
Refulfugeria y reconcavea